发表论文
王可暄高工与实验室共同研究结果在Micromachines期
来源:未知作者:清凉风日期:2023/07/27 浏览:
王可暄高工与实验室共同研究结果在Micromachines期刊发表
Impact of Through-Hole Defects on the Electro-Explosive Properties of Exploding Foil Transducers
1
Shaanxi Applied Physics and Chemistry Research Institute, Xi’an 710061, China
2
School of Optoelectronic Engineering, Xi’an Technological University, Xi’an 710021, China
3
Xi’an North Qinghua Electromechanical Co., Ltd., Xi’an 710025, China
*
Author to whom correspondence should be addressed.
Micromachines 2023, 14(8), 1499; https://doi.org/10.3390/mi14081499 (registering DOI)
Received: 7 July 2023 / Revised: 23 July 2023 / Accepted: 25 July 2023 / Published: 26 July 2023
(This article belongs to the Special Issue Structural Analyses and Designs for Flexible/Stretchable Electronics, Volume II)
Figure 3. Calculated temperature gradient distribution at 200 ns for three types of bridge foil. (a) 50 μm radius through-hole bridge foil; (b) 20 μm radius through-hole bridge foil; and (c) defect-free bridge foil.
论文主要考察了表面缺陷对金属爆炸箔换能元电爆炸性能的影响。具体而言,重点研究了桥箔中缺陷的影响及其对电爆炸时间和换能效率的影响。为了分析这些影响,开发了一个电流-电压模拟模型来模拟有缺陷的桥箔的行为。仿真结果通过桥区两端的实验电流-电压测量得到验证。研究结果表明,桥箔表面通孔缺陷的存在会导致电爆炸时间的延长和桥箔换能效率的降低。在有缺陷的桥箔和无缺陷的铜箔之间进行性能比较。如所观察到的,半径为20μm的通孔缺陷导致发火时间提前1 ns,能量转换效率降低1.52%。类似地,半径为50μm的通孔缺陷导致发火时间提前51ns,能量转换效率降低13.96%。这些发现强调了表面缺陷对电爆炸性能的有害影响,提出如何最大限度地减少缺陷以提高其性能的方法。
《Micromachines》
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